Lei de Bragg

a) Qual o objetivo do uso da tcnica de difrao de raios -X pelos autores?

A difrao de raios-X foi utilizada no experimento para analisar as fases e estruturas cristalinas (ex: hexagonal compacta, cbica de corpo centrado) do titnio grau 2 e da liga Ti-6Al-4V; e, atravs destas caractersticas microestruturais, verificar as caractersticas mecnicas e identificar possveis falhas nos materiais.b) Que tipo de fonte de raios-X foi utilizado?

Foi utilizado um difratmetro de raios X Rigaku, com radiao K do cobre, varrendo uma faixa de ngulos de 10 a 100.c) Qual o comprimento de onda da radiao?

Comprimento de onda ( ) = 15,42 nm.d) Escolha um difratograma (caso mais de um seja apresentado no artigo). Calcule a distncia interplanar de cada plano cristalino identificado no difratograma, a partir dos valores de ngulo de difrao (2 ) obtidos experimentalmente. Utilize a lei de Bragg para isto.

Anlise

do

difratograma

retirado

do

artigo

Caracterizao

microestrutural e mecnica do titnio puro e da liga Ti-6Al-4V utilizada em aplicaes biomdicas.

Figura 4: Difratograma de raios X do titnio comercial grau 2.

Lei de Bragg:

Onde, = comprimento de onda do raio -X d = distancia interplanar 2 = ngulo de difrao

(1)

Aproximando os ngulos de difrao do titnio : 2 2 2100 = 002 = 101 =

35 39 40

2 2 2

102 110 103

= 52 = 63 = 70

2 2 2

112 = 201 = 004 =

77 78 93

Substituindo os ngulos de difrao (2 ) na equao (1), e utilizando 15,42 nm, temos: Plano (100) (002) (101) (102) Distncia Interplanar d (nm) 25,64 23,10 22,54 17,59

=

(110) (103) (112) (201) (004)

14,76 13,44 12,39 12,25 10,63