Avaliao das dimenses da clula de medio (porta amostra)

Todas as dimenses em milmetros (mm).

1 REQUISITOS NECESSRIOS PARA AMOSTRA

Dimetro > 20 mm

Espessura >

mm

2 REQUISITOS NECESSRIOS PARA MEDIDA

Frequncia de 200 MHz at 20 GHz

Temperatura de -40 C a 200 C

Limite mximo para as propriedades do MUT <

GHz

3 PROFUNDIDADE DA SENSIBILIDADE

Supe-se que a permissividade da 2 camada no influencie na medio da permissividade da

primeira. Pois a espessura da primeira camada mais extensa do que a sensibilidade da

profundidade.

A permissividade ser maior ou menor do que a verdadeira permissividade da camada quando a

espessura da camada for menor do que a sensibilidade da profundidade.

Assim, a rea ativa da sonda (faixa de sensibilidade) aproximadamente duas vezes o dimetro

do dieltrico da sonda (e 4 vezes b).

4 SIMULAO DAS PROPRIEDADES DA SONDA

Permissividade complexa do leo de castanha

A. Clula de tamanho reduzido

Dimenses inferiores s especificadas pela Agilent;

Dimetro interno:19,6 mm

Dimetro externo: 25,6 mm

Altura interna: 30,5 mm

Altura externa: 33,5

Distncia abertura at a base do suporte: 15 mm

4.A.1 Coeficiente de Reflexo S11

4.A.2 Campo Prximo

B. Clula de tamanho padro

Dimenses superiores s especificadas pela Agilent;

Dimetro interno: 63,5 mm

Dimetro externo: 76 mm

Altura interna: 102 mm

Altura externa: 144,5 mm

Distncia abertura at a base do suporte: 86,5 mm

4.B.1 Coeficiente de Reflexo S11

4.B.2 Campo Prximo

4.B.3 Comparao de Resultados

5 CONCLUSES

A partir de simulaes no CST verificou-se que as dimenses do porta-amostra interferem

diretamente no comportamentos dos campos (eltrico e magntico) e consequentemente afeta o

coeficiente de reflexo.

Na clula de tamanho reduzido, atravs da animao dos campos eltricos, verificou-se que

campos eltricos incidentes refletem a partir da base da clula metlica e desta forma surgem

campos eltricos de sentido oposto, os quais iro interferir no coeficiente de reflexo.

Na clula de tamanho padro, atravs da animao dos campos eltricos, verificou-se que

os campos eltricos incidentes, devido a distncia infinita entre a sonda (plano de abertura) e a

base da cula, so absorvidos pelo material e desta forma no interferem no coeficiente de

reflexo.

6 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

[1] PEREZ, Mauricio David. General effective medium model for thecomplex permittivity extraction

with an open-ended coaxial probe in presence of a multilayer material under test. 2012. Tese

(Doutorado) - Universita di Bologna, Bologna.

[2] Measurement of Dielectric Material Properties - Application Note, Rohde & Schwarz,

Germany.

[3] GRADY, Michael Dante. Coaxial Probe for High Temperature Dieletric Caracterization. 2010.

Tese (Mestrado) - Auburn University, Auburn.