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Controle de

Processo

Plano de Controle

Controle Estatstico de Processo

Anlise de Capabilidade de Processo

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Plano de Controle

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Plano de Controle

O Plano de Controle derivado do FMEA;

O Plano de Controle inclui todos controles previstos em cada

operao listada no Fluxograma de Processo;

Tcnicas Prova de Erro (Poka Yoke / Mistake Proofing)

devem ser preferidas a controles convencionais;

Estabelecer as caractersticas a serem verificadas, os

mtodos e o plano de reao em cada etapa aplicvel do

processo;

Pode ser incorporado s Folhas de Processos.

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Formulrio Cabealho

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Formulrio

Identificao da

Etapa do

Processo onde o

controle

aplicado

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Formulrio

Descrio das

caractersticas

controladas

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Caractersticas Especiais

Controle Robusto

Dispositivo Prova

de Erro Poka Yoke /

Mistake Proofing

Controle Estatstico de

Processo Cartas de Controle e Anlise de

Capabilidade

Inspeo 100%

Preferencial Recomendvel Conteno (85% eficaz)

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Formulrio

Detalhes sobre o

mtodo de

controle

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Formulrio

Plano de Reao

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Exemplos

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Exemplos

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Fluxograma de Processo

Op. 30

Colocar

gua na

cuia

Cevar a

erva

Queimar a

erva

Gosto

amargo

Chiado

da

chaleira

Experiment

ar

chimarro

gua muito

quente

PFMEA

Plano de Controle

Interface com outros documentos

Folhas

de

Processo

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Controle Estatstico de Processos -

CEP

Controle Estatstico de Processo (Statistical Process Control

SPC).

Definio: mtodo preventivo de se comparar, continuamente,

os resultados de um processo com referenciais, identificando a

partir de dados estatsticos as tendncias para variaes

significativas, a fim de eliminar ou controlar essas variaes;

Objetivo: reduzir a variabilidade de um processo atravs da

eliminao das causas especiais de variao.

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Conceitos Bsicos

Variao;

Distribuio Normal;

Causas Especiais e Causas Comuns;

Controle estatstico.

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Variao (Disperso)

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Medidas de Variao

Amplitude (A ou R):

R = Maior leitura menor leitura

Desvio padro (s):informa quanto os dados

esto dispersos em torno da mdia. Para

variaes pequenas o desvio padro

pequeno.

n

xx

nS

i

i

2

2

1

1

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Distribuio Normal

Mdia

Desvio

Padro

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Tipos de Variao

Aleatria:

Inerentes ao processo;

Podem ser eliminadas

somente atravs de

melhorias no

processo;

Tipicamente 15% dos

problemas;

Causas comuns.

No Aleatria:

Devido a razes

identificveis

(assinalveis);

Podem ser eliminadas

atravs de aes do

operador ou da

gerncia;

Tipicamente 85% dos

problemas;

Causas especiais.

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Causas comuns x Causas especiais

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Variabilidade e Previsibilidade

Todos os processos tm variao... Mas somente variao devido a causas comuns previsvel.

Um processo est sob controle estatstico quando somente causas comuns esto presentes.

Processo sob ao de

causas especiais

Processo sob ao de

causas comuns

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Controle de Processo

Processo fora de controle:

Presena de causas especiais

Processo instvel

Processo no previsvel

Processo sob controle:

Causas especiais eliminadas

Presena somente de causas comuns de variao

Processo estvel

Processo previsvel

m

Implementao de

Controle de Processo

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Grfico de Controle

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

Nmero da Amostra

LSC

Mdia

LIC

LSE

LIE

Causa

Especial

Grficos de

controle mostram

a variao do

processo ao

longo do tempo

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Cartas de Controle: objetivo

Identificar causas especiais

de variao.

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Principais Tipos de Cartas de Controle

Dados Tipo Atributos

Para itens defeituosos (carta p)

Para defeitos (carta c)

Dados Tipo Variveis

X e AM (individuais e amplitude mvel)

X e R (mdia e amplitude)

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Cartas: apresentao

Composta de dois grficos:

Grfico das mdias (X) ou dos valores individuais (I)

Mostram a localizao do processo

Tipicamente possuem Limites Inferiores e Superiores de Controle (LIC / LSC)

Grfico das amplitudes (R) ou amplitude mvel (mR)

Mostram a variao (dispero) do processo

Possuem somente Limite Superior de Controle (LSC)

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Processo Estvel = Sob Controle

Histograma: fotografia

do processo Carta de controle:

comportamento ao longo

do tempo

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Determinao dos Limites de Controle

x = x1 + x2 + ... xk

k =

LSC = x + A2R LIC = x - A2R = =

Onde:

x = mdia das mdias das amostras =

Limites para grfico Xbar

Aproximadamente igual a 3

Desvios Padro

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Critrios para identificao de causas especiais nas

cartas de controle

8 ou mais pontos acima ou abaixo da Linha Central Possveis causas:

Mudana no ajuste de mquina Processo, mtodo ou material diferente Avaria de um componente na mquina

Quebra de mquina Grande variao no material recebido

6 ou mais pontos Subindo ou Descendo

Possveis causas: Desgaste de Ferramenta

Gradual desgaste do equipamento Desgaste relacionado ao instrumento de medio

Pontos fora dos Limites de Controle Possveis causas:

Erro na medio ou digitao Quebra de ferramenta

Instrumento de medio desregulado Operador no consegue identificar a medida

Periodicidade dos Pontos Possveis causas:

No-uniformidade na matria-prima recebida Rodzio de Operadores, Gabaritos e

instrumentos Diferena entre turnos

Deslocamento da Mdia Possveis causas:

Novo Mtodo Nova Mquina

Melhoria de Qualidade Novo Lote de Material

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Processo Instvel = Fora de Controle

Presena de causas

especiais

Presena de causas

especiais

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Exemplos

Criao de uma carta:

Virtual Machine

Formulrio Carta de Controle

Exemplo 1

Exemplo 2

Virtual_Machine.29772944.xlsCpia de asq-control-chart.xlsEstudos_R170559.pdfEstudo de capabilidade 85,09 0,025.pdf

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Seleo de Cartas de Controle

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Capabilidade de Processo - Conceitos

Tolerncias: especificaes de engenharia que representam requisitos do produto.

Capabilidade do Processo: representa o melhor desempenho do processo e determinada pela variao das causas comuns. Isso demonstrado quando o processo est sendo operado sob controle estatstico. A capabilidade potencial do processo (Cp) a entre tolerncia e a

variabilidade do processo.

A capabilidade efetiva do processo (Cpk) mede a localizao da variao do processo com relao aos limites de especificao. a condio real de operao do processo. Considera a variao dentro dos subgrupos sc (desvio padro estimado por Rbar/d2) estudo de curto prazo.

Desempenho do Processo: representa o desempenho geral do processo considerando todas as variaes presentes.

O desempenho potencial e efetivo do processo (Pp/Ppk) tem conceito similar ao da capabilidade, porm utiliza a variao entre os subgrupos sp, que a variao total do processo (desvio padro amostral s longo prazo.

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ndice de Capabilidade Potencial

do Processo

Cp = Amplitude da tolerncia

Amplitude do processo

LSE LIE

6sc

Cp =

Clculo da Capabilidade do Processo

Onde:

sc = R

d2

_

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Exemplo:

Dimenso = 9,0mm 0.5mm

Mdia do processo = 8,80 mm

Amplitude mdia = 0,33 mm

Tamanho da amostra = 5

LSE LIE

6sc Cp =

9.5 - 8.5

6 (0,33/2,326) Cp = = 1,17

Calculando Cp

Onde:

sc = R

d2

_

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ndice de Capabilidade efetiva

do Processo

Cpk = mnimo x - LIE

3sc

LSE - x

3sc ;

_ _

Clculo da Capabilidade do Processo

Onde:

sc = R

d2

_

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8.80 - 8.50

3 (0,33/2,326)

9.50 - 8.80

3 (0,33/2,326) Cpk = mnimo ;

0,70 1,64

= 0,70

Exemplo:

Dimenso = 9,0mm 0.5mm

Mdia do processo = 8,80 mm

Amplitude mdia = 0,33 mm

Tamanho da amostra = 5

Calculando Cpk

Cpk = mnimo x - LIE

3sc

LSE - x

3sc ;

_ _

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Representao da Capabilidade

LIE LSE

Cp = 1,17

Cpk = 0,70

8,5 9,5 9,0 X _

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(b) Limites de especificao e variao natural so iguais; processo capaz de atender as especificaes a maior parte do tempo.

Limites de Especificao

Processo

(a) Variao natural excede os limites de especificao; processo no capaz de atender as especificaes o tempo todo.

Limites de Especificao

Processo

Processos capazes e no capazes

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Processos capazes e no capazes

(c) Limites de especificao maiores que a variao natural do processo; o processo capaz de atender a especificao ao longo do tempo.

(d) Limites de especificao maiores que a a variao natural do processo, mas o processo est descentralizado. Processo capaz mas alguns resultados no vo atender o limite superior de especificao.

Limites de Especificao

Processo

Limites de Especificao

Processo

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Cp < 1: a capabilidade do processo inadequada tolerncia exigida.

1 Cp 1,33: a capabilidade do processo est em torno da diferena entre as especificaes.

Cp > 1,33: a capacidade do processo adequada tolerncia exigida (resta 30% de folga na tolerncia).

Anlise da capabilidade

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ndice de Desempenho Potencial

do Processo

Pp = Amplitude da tolerncia

Amplitude do processo

LSE LIE

6sp

Pp =

Desempenho do Processo

Onde: sp = s

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Resultados da Anlise de Capabilidade