UNIVERSIDADE PRESBITERIANA MACKENZIE

Unidade Universitria: ESCOLA DE ENGENHARIA Curso: ENGENHARIA DE PRODUO Disciplina: Princpios de Metrologia Industrial

Cdigo da Disciplina: 161.1602.1

Professor(es): Ailson Luiz de Oliveira DRT: 1050094

Etapa: 6

Carga horria: 2 T + 2 P

Semestre Letivo: 1 de 2012

Ementa: Analisar a metrologia, como requisito dos sistemas de gesto da qualidade. Estudar definies e conceitos metrolgicos fundamentais, a calibrao de dispositivos de medio e monitoramento, os tipos de erros de medio e a sua propagao e a incerteza de medies. Discutir os conceitos bsicos de metrologia dimensional, metrologia de massa e presso, metrologia de temperatura, metrologia de fora, metrologia de tempo e frequncia, metrologia eltrica, estudos de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R) e comparaes interlaboratoriais. Objetivos:

Fatos e Conceitos Procedimentos e Habilidades Atitudes, Normas e Valores

O aluno deve conhecer os fundamentos da metrologia industrial, a calibrao de equipamentos de medio e propagao dos erros de medio. O aluno deve ser capaz de aplicar os conceitos metrolgicos em exerccios e estudos de casos propostos. O aluno deve se capaz de elaborar estudos de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R) das medies. O aluno de conscientizar-se da necessidade aplicao das normas internacionais de gesto da qualidade metrolgica, clculo da incerteza das medies e calibrao de equipamentos de medio.

Aplicar as ferramentas e tcnicas de medio, determinao de erros e incertezas na medio e monitoramento da qualidade em exerccios e estudos de casos propostos. Interessar-se pelas tcnicas de calibrao de equipamentos de medio e monitoramento de processos. O aluno deve ter conhecimento das principais normas de controle da qualidade e confiabilidade metrolgica. O aluno deve ser capaz de identificar no-conformidades dos sistemas de medio e as respectivas aes corretivas.

O aluno dever valorizar o trabalho em equipe no monitoramento de processos produtivos e de apoio produo. Dever ser capaz de treinar o pessoal operacional nas tcnicas e prticas de medio e manuteno da confiabilidade metrolgica dos equipamentos de medio. Dever agir com tica e imparcialidade na aplicao das normas aplicveis ao produto e/ou servio, e suas tolerncias. O aluno dever assegurar a confiabilidade dos resultados de medies e calibraes efetuadas para terceiros.

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UNIVERSIDADE PRESBITERIANA MACKENZIE

Contedo Programtico: 1 - Introduo. Aplicaes da metrologia. Conceitos gerais. Definies. Sistema Internacional de

Unidades.

2 - Noes gerais de variao, exatido e preciso de medidas. Determinao das incertezas de

medio.

3 - A importncia da metrologia nos sistemas de gesto da qualidade.

4 - A RBC e RBLE - Critrios de credenciamento de laboratrios.

5 - Calibrao de dispositivos de medio e monitoramento.

6 - Padres e rastreabilidade metrolgica. Validao de dispositivos.

7 - Anlise dos requisitos da norma ISO IEC 17025.

8 - Metrologia dimensional.

9 - Metrologia de massa e presso.

10- Metrologia de temperatura.

11- Metrologia de fora.

12- Metrologia de tempo e frequncia.

13 Metrologia qumica.

14- Estudos de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R).

15- Comparaes interlaboratoriais.

Metodologia: Aulas tericas expositivas, complementadas com exerccios baseados em dados de situaes prticas. Visitas aos laboratrios para a aplicao de tcnicas de medio e calibrao de dispositivos de medio e monitoramento. Critrio de Avaliao:

Sero realizadas duas provas intermedirias (P1 e P2), alm da prova de avaliao final escrita (PAFE). Os exerccios e trabalhos prticos sero divididos em dois grupos (T1 e T2). Considerando os pesos de cada parcela da nota, a mdia final (MF) ser dada pela expresso:

MF= [(2P1/3 + T1/3)*2,5 + (2P2/3 + T2/3)*2,5 + PAFE*5,0]/10

O aluno ser aprovado com nota maior ou igual 6,0, com frequncia mnima de 75%.

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Bibliografia Bsica: 1. ALBERTAZZI, Armando; SOUSA, Andr Roberto. Fundamentos de metrologa cientfica e

industrial. So Paulo: Manole, 2010, 408 p.

2. LIRA, Francisco Adval de. Metrologia na Indstria. 4 ed. So Paulo: rica, 2005, 246 p.

3. MENDES, Alexandre; ROSRIO, Pedro Paulo Novelino. Metrologia e incerteza de medio. So Paulo: Epse, 2005, 128 p.

Bibliografia Complementar: 1. GONZLES, Carlos G. Metrologia. 2 ed. Mxico: McGraw-Hill Interamericana, 2005, 446 p.

2. SCHMIDT, Walfredo. Metrologia Aplicada. 1 ed. So Paulo: Epse, 2003, p. 174.

3. SILVA, Cludio Xavierr da; LOUZADA, Fernando Mazzilli. Medir comparar. 2. Ed. So Paulo:

tica, 2007, 64 p.

4. NANNI, Hlio. Laboratrio de metrologia. So Paulo: Ed. Mackenzie, 1973, 95 p.

5. ROSA, Leandro Cantorski da. Introduo ao controle estatstico de processo. Santa Maria: Editora da UFSM, 2009, 150 p.