GERAÇÃO MODULAR AUTOMÁTICA DE ARQUITETURA PARA TESTES DE CIRCUITOS ELETRÔNICOS BASEADO NO PADRÃO

IEEE 1149.1

Orientador:Prof. Ms. Tiago da Silva Almeida

Discentes:Nágila de Araújo Vaz

Ródney dos Santos Mazuqui

JALES – SPNovembro, 2013

UNIJALES - Centro Universitário de Jales

Circuitos

• O que são circuitos?• Como funcionam?

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Circuitos

• O sinal nas trilhas de um circuito.

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Circuitos

• Como era realizado o teste.

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Circuitos

• Como era realizado o teste.

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Circuitos de múltiplas camadas

• Circuitos de múltiplas camadas.• Sistemas complexos quase impossíveis

de serem testados.

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Circuitos de múltiplas camadas

• Parte da solução:• -Dividir um sistema complexo

em sub sistemas menores;• -Estabelecer padrões dos valores

de entrada e saída destes sub sistemas;• -Estabelecer quantos nós terá

o sub sistema.

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Testes

• O que o observar em um teste? • Controlabilidade é a capacidade de controlar nós

definidos dentro de um circuito;• Observabilidade é a capacidade de

observar os valores de nós definidosdentro de um circuito.

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Padrão de testes IEEE 1149.1

• É um padrão de testes homologado que facilita:-Detectar aberturas nas conexões entre circuitos integrados

• -Detectar e localizar falhas de ligações.• -Permite o uso de bibliotecas para circuitos.

-Pode ser usado em circuitos mistos

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Controlador TAP

• Controlador TAP - Test Acess Port

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Simulador Boundary Scan

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Framework

• Desenvolvimento de um framework de testes com a linguagem BSDL.

• C++ tem maior flexibilidade e reutilização de código.• A implementação em outros projetos se torna

mais fácil.

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Referências

• ALMEIDA, T. da S. Ambiente computacional para projetos de sistemas com tecnologia mista. 144 p. Dissertação (Mestrado) | Universidade Estadual Paulista, 2009.

• ALMEIDA, T. da S.; SILVA, A. C. R. da; SAMPAIO, D. J. B. Computacional tool to support design of dac converter model ad7528 with the object code in xml. In:

• Electronics, Robotics and Automotive Mechanics Conference (CERMA), 2012 IEEE. Cuernavaca, México: [s.n.], 2012. p. 1{6.

• ASHENDEN, P. J.; PETERSON, G. D.; TEEGARDEN, D. A. The System Designers Guide to VHDL-AMS. California, USA: Elsevier Science, 2003.

• ATHANASOPOULOU, E.; LI, L.; HADJICOSTIS, C. N. Maximum likelihood failure diagnosis in nite state machine under unreliable observations. IEEE Transactions on Automatic Control, v. 55, n. 3, p. 579{593, 2010.

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