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88 Propagação de Incertezas Propagação de Incertezas
Através de MódulosAtravés de Módulos
Fundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia Científica e IndustrialCientífica e Industrial
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 2/52)
MotivaçãoMotivação
Algumas vezes é necessário compor Algumas vezes é necessário compor sistemas de medição reunido sistemas de medição reunido módulos já existentes.módulos já existentes.
O comportamento metrológico de O comportamento metrológico de cada módulo é conhecido cada módulo é conhecido separadamente.separadamente.
Qual o comportamento metrológico Qual o comportamento metrológico do sistema resultante da combinação do sistema resultante da combinação dos vários módulos?dos vários módulos?
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 3/52)
0.000
0.000
TransdutoresUTS
Dispositivos mostradores
0.000
0.000
0.000
6.414
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 4/52)
Composição de sistemas de Composição de sistemas de mediçãomedição
Módulo 1
...Módulo 2
Módulo nESM SSM
sistema de medição
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8.28.2
Modelo MatemáticoModelo Matemático
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 6/52)
Modelo matemático para um Modelo matemático para um módulomódulo
Módulo 1 S1E1
K(M1) : sensibilidade
C(M1) : correção
u(M1) : incerteza padrão
Idealmente:
S(M1) = K(M1) . E(M1)
Em função dos erros:
S(M1) = K(M1) . E(M1) – C(M1) ± u(M1)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 7/52)
Modelo para dois módulosModelo para dois módulos
Módulo 1E(M1)
S(M1) = K(M1) . E(M1) - C(M1) ± u(M1)
Módulo 2S(M2)
S2 = K2 . E2 - C2 ± u2
S(M1)
E(M2)
E2 = S1
S2 = K2 . (K1 . E1 - C1 ± u1) - C2 ± u2
S2 = K1 . K2 . E1 - (C1. K2 + C2) ± (u1. K2 + u2)
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8.38.3
Sensibilidade EquivalenteSensibilidade Equivalente
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 9/52)
Modelo matemático para Modelo matemático para nn módulos módulos
Módulo 1
...Módulo 2
Módulo nESM SSM
K1, C1, u1 K2, C2, u2 Kn, Cn, un
SSM = K1 . K2 . ... . Kn . ESM
KSM = K1 . K2 . ... . Kn
sensibilidade
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8.48.4
Correção Relativa EquivalenteCorreção Relativa Equivalente
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 11/52)
Modelo matemático para Modelo matemático para nn módulos módulos
CrSM = Cr1 + Cr2 + ... + Crn
sendo:
correção
Cr = correção relativa, calculada por:
para o módulo “k”k
kk S
CCr
para o sistema de mediçãoSM
SM
SM
SMSM S
CS
E
CECr
CESM = correção na entrada do SM
CSSM = correção na saída do SM
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8.58.5
Incerteza Padrão Relativa Incerteza Padrão Relativa EquivalenteEquivalente
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 13/52)
Modelo matemático para Modelo matemático para nn módulos módulos
(urSM)2 = (ur1 )2 + (ur2 )2 + ... + (urn )2
sendo:
incerteza
ur = incerteza relativa, calculada por:
para o módulo “k”k
kk S
uur
para o sistema de mediçãoSM
SM
SM
SMSM S
uS
E
uEur
uESM = incerteza na entrada do SM
uSSM = incerteza na saída do SM
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 14/52)
Modelo matemático para Modelo matemático para nn módulos módulos
graus de liberdade efetivos
n
n
SM
SM urururur
4
2
42
1
41
4
...
sendo:
número de graus de liberdade efetivo do sistema de medição
a incerteza padrão relativa combinada do sistema de medição
a incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo
n de graus de liberdade da incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo
)(SM)(SMuR)( iR Mu
)( iM
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8.68.6
Correção e Incerteza em Correção e Incerteza em Termos AbsolutosTermos Absolutos
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 16/52)
Correção e IncertezaCorreção e Incerteza
Na entrada do SM:
SMSM
SMSM
uRE
CRE
.uE
.CE
SM
SM
SMSM
SMSM
uRS
CRS
.uS
.CS
SM
SM
Na saída do SM:
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8.78.7
Problema ResolvidoProblema Resolvido
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 18/52)
Problema:Problema:
A indicação do voltímetro abaixo é 2,500 V. A indicação do voltímetro abaixo é 2,500 V. Determine o resultado da medição do Determine o resultado da medição do deslocamento, efetuado com o sistema de deslocamento, efetuado com o sistema de medição especificado abaixo, composto de:medição especificado abaixo, composto de:
ESM= ? 2,500 Vtransd. indutivo
amplifi-cador
voltí-metro
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 19/52)
transd. indutivo
amplifi-cador
voltí-metroESM= ? 2,500 V
transd. indutivo de deslocamentosfaixa de medição: 0 a 20 mmsensibilidade: 5 mV/mmcorreção: - 1 mVu = 2 mV
unidade de tratamento de sinaisfaixa de medição: ± 200 mV (entrada)amplificação: 100 Xcorreção: 0,000 Vu = 0,2 % (VFE)
disp. mostrador: voltímetro digitalfaixa de medição: ± 20 Vcorreção: 0,02% do valor indicadou = 5 mV
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 20/52)
transd. indutivo
amplifi-cador
voltí-metroESM= ? 2,500 V
KT = 5 mV/mmCT = - 1 mVuT = 2 mV
KUTS = 0,1 V/mVCUTS = 0,000 VuUTS = 0,2 % . 20 V
KDM = 1 V/VCDM = 0,02 % . 2,5VuDM = 5 mV
CrT = - 1/25 = -0,04urT = 2 /25 = 0,08
CrUTS = 0,000 urUTS = 0,04/2,5 = 0,016
CrDM = 0,0005/2,5 = 0,0002urDM = 0,005/2,5 = 0,002
2,500 V25,00 mV5,00 mm
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 21/52)
KSM = KT . KUTS . KDM = 5 mV/mm . 0,1 V/mV . 1 V/V
KSM = 0,5 V/mm
CrSM = CrT + CrUTS + CrDM = -0,0400 + 0,0000 +0,0002
CrSM = -0,0398
sensibilidade
correção
na entrada:
CESM = CrSM . ESM = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm
CESM = -0,199 mm
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 22/52)
(urSM)2 = (urT)2 + (urUTS)2 + (urDM)2
incerteza
na entrada:
uESM = urSM . ESM = 0,0815. 5,000 mm
(urSM)2 = (0,08)2 + (0,016)2 + (0,002)2
(urSM)2 = 0,0001 . [64 + 2,56 + 0,04]
urSM = 0,0815
uESM = 0,4075 mm
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 23/52)
graus de liberdade efetivos
n
n
SM
SM urururur
4
2
42
1
41
4
...
96
)002,0(
20
)016,0(
16
)080,0()0815,0( 4444
SM
2,17SM
UESM = t . uESM = 2,16 * 0,4075 = 0,88 mm
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 24/52)
Resultado da mediçãoResultado da medição
RM = I + CESM ± UESM
RM = 5,000 + (-0,0398) ± 0,88
RM = (4,80 ± 0,88) mm