A0_EN3717_Apresentacao

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EN-3717 OPTOELETRÔNICA PROFESSORES RESPONSÁVEIS Diurno: [email protected] Noturno: [email protected] INFORMES E NOTAS DE AULA Site: o https://sites.google.com/site/en3717opto2q2015/ Apresentação do curso: Tópicos. Bibliografia. Avaliação.

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Apresentacao da disciplina de Optoletronica lecionada na Universidade Federal do ABC 2 quadrimestre de 2015

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  • EN-3717 OPTOELETRNICA

    PROFESSORES RESPONSVEIS

    Diurno: [email protected] Noturno: [email protected]

    INFORMES E NOTAS DE AULA Site:

    o https://sites.google.com/site/en3717opto2q2015/

    Apresentao do curso: Tpicos. Bibliografia. Avaliao.

  • TPICOS o Eletromagnetismo: Reviso de conceitos fundamentais sobre a luz

    o Interao da luz com a matria: Ftons e Eltrons

    Efeito fotoeltrico

    o Tpicos de dispositivos

    Displays (LCDs), Moduladores de luz, Sensores de Imagem e Discos pticos

    Lasers: Fundamentos

    o Semicondutores

    Caractersticas eltricas e conceitos fundamentais

    LDRs: Resistores dependentes da luz

    LEDs e LDs: Diodos emissores de luz e lasers de diodo

    Fotodiodos e Clulas solares

  • BIBLIOGRAFIA S. O. KASAP, "Optoelectronics and photonics: principles and practices". New

    York: Prentice Hall, 2001.

    B. E. A. SALEH and M. C. TEICH, "Fundamentals of Photonics", Wiley, 2006.

    S. L. CHUANG, "Physics of optoelectronic devices", Wiley Series in Pure and Applied Optics, 1995.

    A. YARIV, "Optical electronics in modern communications", Oxford Series in Electrical Engineering, 1997.

    E. ROSENCHER, B. VINTER, "Optoelectronics", Cambridge University Press, 2002.

    W. J. SMITH, "Modern Optical Engineering", McGraw-Hill, 2008.

    E. HECHT, Optics, Addison Wesley, 4th ed., 2002.

    G. R. FOWLES, Introduction to Modern Optics, 2nd ed., Dover Pub. Inc. NY, 1975.

  • AVALIAO 2 Provas tericas individuais (P1 e P2)

    o P1: tera-feira, dia 23/06 o P2: quinta-feira, dia 30/07

    1 Prova Substitutiva Fechada (Realizada em caso de falta por motivo de doena; necessrio apresentar atestado mdico).

    o P1-SUB/P2-SUB: quinta-feira, 06/08

    6 Atividades prticas (AP.1 a AP.6)

  • Atividades Prticas (APs) o 3 Experimentos

    Lab. 406-1 Sero formados 6 grupos

    o 3 provinhas envolvendo a matria das aulas anteriores Realizadas em grupos de 2 (mnimo) a 3 (mximo) alunos

    durante a primeira hora de aula Consulta bibliogrfica livre Consulta entre grupos no permitida

    OBSERVAES As datas sero divulgadas no site (recomenda-se consulta peridica) Tolerncia para realizao: chegar at 15 minutos aps o incio da aula Entrega do relatrio/provinha opcional

  • MDIA FINAL (MF) o Cada atividade prtica realizada tem peso de 5% na mdia final

    (MF) o Caso o aluno no realize uma determinada atividade prtica, o peso

    dessa atividade ser automaticamente incorporado ao peso das provas. o Em resumo, considere:

    N = nmero de atividades prticas realizadas por um aluno A = nota mdia das atividades realizadas: A = (A1 + ... + AN) / N P = nota mdia das provas individuais: P = (P1 + P2) / 2

    o A mdia final de cada aluno ser calculada como:

    MF = 0.05NA + (1 0.05*N)P o Por exemplo, se N = 4 MF = 0.2A + 0.8P

  • ATRIBUIO DE CONCEITOS A: 8.5 MF 10

    B: 7.0 MF 8.4

    C: 5.0 MF 6.9

    D: 4.0 MF 4.9

    F: MF 3.9

    O: Reprovado por frequncia

    FREQUNCIA Para aprovao F 75 %

    i.e., mximo de 1 falta a cada 4 aulas

  • INFORMAES SOBRE O EXAME Exame (E): Quinta-feira, dia 13/08.

    Podem optar por fazer o exame alunos com conceito D ou F. O exame consistir de uma nica prova abrangendo toda a matria. A nota do exame substitui automaticamente as notas das duas provas,

    i.e., a mdia das provas substituda pela nota do exame em qualquer

    caso, ainda que a nota do exame seja menor que a mdia das provas. OBS.: Nesse sentido, alunos com conceito D que optarem por fazer o exame devem se preparar muito bem, sob o risco de terem seu conceito substitudo de D para F (entrega do exame em branco implica em nota zero). O clculo da mdia final continua o mesmo, com a nota mdia das provas

    substituda pela nota do exame.

    CONCEITO: F se MF < 4.0, D se 4.0 MF < 5.0, C se MF 5.0