Formação da Imagem

André Luiz Pinto, DCChefe do Laboratório de

Microscopia Eletrônica do IME

Microscopia Eletrônica de Transmissão

O MET e seu interior...

Jeol

Jeol

Microscopia Eletrônica de Transmissão

A figura de difração e a formação de imagem.

Williams e Carter

Contraste de Massa e Espessura

Williams e Carter

Contraste de Massa e Espessura

Réplica de uma amostra de aço com precipitados de Ti-V-C.

Amostras Cristalinas

A figura de difração e a formação de imagem.

Jeol

Campo Claro e Campo Escuro

Campo Claro: Toda imagem que inclui o feixe diretoCampo Escuro: Toda imagem que deixa de incluir o feixe direto

Williams e Carter

Franja de Fresnel

Williams e Carter

Experimento Mental

Plano da Amostra Plano Focal

Experimento Mental

Plano Imagem Plano Focal

Plano da Amostra

Campo Escuro

Imagem de campo escuro do precipitado V6C5 e seupadrão de difração.

Imagem de campo escurodo precipitado V8C7 e seupadrão de difração.

Williams e Carter

Experimento Mental

Plano Imagem Plano Focal

Plano da Amostra

Kumar et all., 2002

Experimento Mental

Plano Imagem Plano Focal

Plano da Amostra

Contraste por Difração

Contraste por DifraçãoWilliams e Carter

Experimento Mental

Plano Imagem Plano Focal

Plano da Amostra

Contraste por Difração

Representação esquemática da formação dasfranjas de rede formadas por vários pontos dedifração de um mesmo plano cristalino.

Contorno de grão especial(CSL) em TiO2.

Williams e Carter

Função de Onda

Equações de Howie-Whelan

.....2.2.2 2

2

1

1+++=Ψ ri

gri

gri

oTggO χπχπχπ φφφ

Função de onda na amostra

( )( )2

222

eff

eff

ggg ts

tssentIπ

πξπφ ⎟⎟⎠

⎞⎜⎜⎝

⎛==

geff ss

ξ12 +=

Franja de Espessura

Ataque químico em MgO

Williams e Carter

Jeol

Franja de Espessura

Al2O3

Williams e Carter

Observação de Discordâncias

Williams e Carter

Observação de Discordâncias

Franjas no interior das células de discordânciasde NiO resultantes da distorção do sistema cúbico para romboédrico acima de TC.

Discordâncias em uma liga FeNiCr.

Paredes de discordânciasem Al deformado.

Williams e Carter

Contornos de Deformação

Williams e Carter

Contornos de Deformação

Williams e CarterJeol

Contraste por DifraçãoFranjas de Moiré

Williams e Carter

Contraste por DifraçãoFranjas de Moiré

ba

bam dd

ddd−

=( ) 22 αbaba

bam

dddd

ddd+−

=Jeol

Contraste por DifraçãoFranjas de Moiré

Williams e Carter

Referências

Williams, D. B. e Carter, C. B., “Transmission Electron Microscopy” , Ed. Plenum, New York, 1996.KUMAR, M., SCHWARTZ, A. J. e KING, W. E. Microstructural evolution during grain boundary engineering of low to medium stacking fault energy FCC materials. ActaMaterialia, v. 50, 2002, p. 2599-2612.Apostila da Jeol - MET