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Introdução à Microscopia de Varredura por Sonda Jéssica A. de Paula Microscopista CM-UFMG 2018
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Introdução à Microscopia
de Varredura por Sonda
Jéssica A. de Paula
Microscopista CM-UFMG
2018
Como surgiu?
Cortesia: Tec. Marcelo Cruz
STM
1981 – G. Binnig e H. Rohrer (IBM) criaram o ScanningTunnelling Microscope
1986 – Prêmio Nobel
V
Restrição: Amostras devem ser condutoras.
SPM/MVS
EFMKPFM
MFM
AMFM
NÃO CONTATO
OSCILATÓRIO
CONTATO
AFM
STM
O que é MVS?
E muitos outros...
AFM
Fotodetector
Amostra
Ponta
Amostra
Força
Sonda
Laser✓ Amostras condutoras ou
isolantes;
✓ Amostras rígidas ou macias;
✓ Não há necessidade de vácuo;
✓ Análise em meio gasoso ou
líquido;
✓ Facilidade de operação.
Instrumentação
Sonda
Scanner XY
Amostra
Scanner ZLaser
Fotodetector
ScannerPZT - Pb(ZrxTi1-x)O3
Titanato zirconato de chumbo
https://www.doitpoms.ac.uk/tlplib/afm/scanner.php
Sonda
Cortesia: Tec. Wesller Schmidtafmprobes.asylumresearch.com/
Modos de operação
Modos de operação
EFM
CargaMaterial Isolante
Visualização do gradiente de força eletrostática entreponta e amostra.Útil para medidas de condutores em superfícies isolantesou semicondutoras.
MFM
Visualização de domínios magnéticos.
MFM
Topografia MFM
Espectroscopia de Força
Forç
a
Distância
Nanoindentação
AMFM
